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覆層測厚儀 |
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| 型 號：TT230 |
| 品 牌：時代儀器 |
| 技術指標：測量范圍：0～1250μm |
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自貢覆層測厚儀-TT230-時代儀器
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詳細介紹
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TT230采用了渦流測厚法它是一種超小型的測量儀，涂層測膜儀，它能快速、無損傷、精密地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。可廣泛用于制造業、金屬加工業、商檢測領域。由于該儀器體積小，費舍爾涂層測厚儀，測頭與儀器一體化，指針涂層測厚儀，特別適用于工程現場測量。
具有五個統計量
可存貯15個測量值
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功能描述
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測量范圍
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0～1250μm
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測量原理
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渦流法
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測量精度
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±（3%H+1.5)μm(零點校準）/±[（1-3）%H+1.5]μm（二點校準）
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其它
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1、可進行零點校準及二點校準
2、可對測頭進行基本校準
3、具有五個統計量：平均值（MEAN)、最大值（MAX)、最小值（MIN)、測試數（NO)、標準偏差（S.DEV)、可存貯和統計計算15個測量值
4、具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE)和單次測量方式（SINGLE)
5、具有自動關機功能
6、刪除功能：對測量中的出現的單次可疑數據進行刪除，牛津涂層測厚儀，也可刪除存貯區內的所有數據，涂層測厚儀 原理，以便進行新的測量
7、操作過程有蜂鳴聲提示
8、有欠壓指示功能
9、有錯誤提示功能
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