日本三豐MitutoyoSV-C3200/SV-C4500-表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀南通-揚州-上海-滁州-內蒙古-新疆有銷售鐵嶺-盤錦-湛江-蕭山-遼寧-淄博-寧夏-綿陽-云南-朝陽-陜西-青海-北海-唐山-吉林-.北京亦莊開發區-正規銷售處天津濱海開發區-秦皇島經濟開發區-太原經濟開發區-官方授權代理商呼和浩特經濟開發區-沈陽經濟開發區-營口經濟開發區-大連經濟開發區-長春經濟開發區-哈爾濱經濟開發區-虹橋經濟開發區-漕河涇開發區-連云港開發區-南通開發區-昆山開發區-南京開發區售后維修聯系方式-沈陽-長春-常州-連云港-淮安-淮陰-鹽城-揚州-徐州-宜興-江陰-官方網站-杭州開發區-蕭山開發區-溫州開發區-價格寧波開發區-蕪湖開發區-合肥開發區-福州開發區-福清融僑開發區-東山開發區-南昌開發區-威海開發區-煙臺開發區-青島開發區-鄭州開發區-北京-上海-淮安-連云港-昆山-浙江-廣東-河南-杭州-鄭州-廣州-深圳-佛山-惠州-廈門-汕頭-臺灣-香港-天津-西安-寶雞-杭州-溫州-常州-如何使用操作視頻杭州-嘉興-湖州-秦皇島-邯鄲-邢臺-保定-張家口-承德-廊坊-呼和浩特-包頭-鞍山-大慶-錦州-蘇州-昆山原理-無錫-鎮江-武漢開發區-長沙開發區-蘿崗區開發區-廣州南沙開發區-惠州大亞灣開發區-湛江開發區-南寧開發區-價格重慶開發區-使用說明書成都開發區-貴陽開發區-昆明開發區-拉薩開發區-西安開發區-蘭州開發區-西寧開發區-銀川開發區-烏魯木齊開發區-石河子開發區-使用說明書金橋出口加工區-蘇州工業園-哈爾濱哪家公司的優惠些-濟南-武漢-廣州-南寧-成都-西安-大連-寧波-廈門-青島-深圳生產廠家-多少錢寧波大榭開發區-廈門海滄投資區-海南洋浦開發區無錫-蘇州-南京-鎮江-揚州-南通-合肥-徐州-常熟-石家莊-太原進口品牌-呼和浩特-沈陽-長春-哈爾濱-南京-合肥-福州-南昌-濟南-鄭州-武漢-長沙-廣州-南寧-海口-成都-貴陽-昆明-拉薩-西安-蘭州-西寧-銀川-烏魯木齊-杭州
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表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀 |
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| 品 牌：日本三豐Mitutoyo |
| 型 號：SV-C3200/SV-C4500 |
| 市場價： |
| 促銷價： |
主要技術指標：測量范圍 X 軸 (驅動部) 100mm
Z1 軸 (檢出器) 800μm/80μm/8μm |
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Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統
通過更換檢測器，一臺機器上即能測量表面粗糙度和輪廓形狀的高精度一體型測量機 ，同時能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機 。
產品特點
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• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
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• X軸內置高精度玻璃光柵尺，粗糙度機，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準定位下，完成間距參數的評價。
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• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
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Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，重慶粗糙度儀，新測臂使Z1
軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，寧波表面粗糙度儀，單此接觸就能完成測臂的裝卸，粗糙度儀校準，提高了易用性。
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• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統的專用功能。
裝配雙錐面測針，實現垂直方向(上/下)連續測量，粗糙度儀時代，所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設置。無需調整配重。
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•卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，time粗糙度儀，通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果。
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• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起，粗糙度儀多少錢，節省安裝空間。
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• 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項專利權在日本受理中)
測臂安裝部采用了磁性連接件，粗糙度儀維修，實現了快速更換。此外，三豐表面粗糙度測量儀，裝卸部內置了安全結構。
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•繁瑣的校正也可以上下兩面連續一次性完成(此項專利權在日本受理中)
SV-C4500 系列使用專業校正規(標配附件)，東京精密粗糙度儀官網，通過改進使得上下兩方附帶從動件的上下圓錐測針能簡便易行地進行校正。Z1 軸增益、對稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。
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產品規格
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貨號
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SV-C3200S4
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SV-C3200H4
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SV-C3200W4
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SV-C3200S8
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SV-C3200H8
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SV-C3200W8
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SV-C4500S4
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SV-C4500H4
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SV-C4500W4
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SV-C4500S8
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SV-C4500H8
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SV-C4500W8
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測量表面粗糙度時
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測量范圍
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X 軸 (驅動部)
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100mm
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200mm
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Z1 軸 (檢出器)
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800μm/80μm/8μm
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直線度
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(0.05+L/1000) μm L: 驅動長度 (mm)
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0.5μm/200mm
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分辨力
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Z1軸（檢出器）
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0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
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測力
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0.75mN (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
4mN (機身代碼末尾帶“-2”的型號)
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測針針尖形狀
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60º, 2μmR (機身代碼末尾帶 “-1”的型號)
90º, 5μmR (機身代碼末尾帶 “-2”的型號)
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對應尺寸
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JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
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評價參數
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Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
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評價輪廓
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原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓、滾動圓波形
輪廓、包絡殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡波紋輪廓在評
價MOTIF 時顯示)
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分析圖
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負荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關、頂峰分布、
傾斜角分布、參數分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)
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曲線補償
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最小平方直線、R 面補償、橢圓補償、拋物線補償、雙曲線補償、二次曲線補償、多項式
補償(自動或任意2~7 次)、無補償
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濾波器
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高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器
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輪廓測量
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測量范圍
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X軸（驅動部）
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100mm
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200mm
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Z1軸（檢出器）
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60mm (測臂水平位置±30mm)
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直線度
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0.8μm/100mm
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2μm/200mm
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精度
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X軸（驅動部）
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±(0.8+0.01L)μm L: 驅動長度 (mm)
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±(0.8+0.02L)μm L = 驅動長度 (mm)
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Z1軸（檢出器）
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SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm
H: 水平位置上的測量高度 (mm)
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分辨力
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X軸（驅動部）
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0.05 μm
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Z1軸（檢出器）
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SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm
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Z2軸（立性）
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1 μm
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測力
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SV-C3200 系列: 30mN (可調使用重量)
SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據軟件轉換)
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側頭方向
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SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨測量)
SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據配重調整)
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通用時
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Z2軸 (立柱) 移動量
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300mm
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500mm
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300mm
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500mm
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X 軸傾斜角度
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±45º
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驅動速度
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X 軸0
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0 - 80mm/s 外加手動
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Z2 軸 (立柱)
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0 - 30mm/s 外加手動
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測量速度
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0.02 - 5mm/s
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