光譜分析儀器的透射率是影響分析結(jié)果的一項重要指標它的測定對結(jié)果的準確性將產(chǎn)生直接影響因此我們總結(jié)了透射率測定的相關(guān)方法供大家參考。
光譜儀的透射率或它的效率可用輔助單色儀裝置來測定。在可見和近紫外實現(xiàn)這些測量沒有任何困難。測量通過第一個單色儀的光通量緊接著測量通過兩個單色儀的光通量以這種方式來確定第二個單色儀的透射率。
絕對測量需要知道單色儀的絕對透射率：對于相對測量以各種波長處的相對單位可以測量透射率。真空紫外線的這些測量有相當大的實驗困難因此通常使用輔助單色儀。在各種入射角的情況下分別測量衍射光柵的效率。在許多實驗步驟中已成功地避免了校準上的困難。
曾經(jīng)研究過光柵效率與波長、入射角、鍍層厚度、鍍層材料以及其它因素的關(guān)系。所有這些測量都指出在許多情況下能量損失是非常顯著的，并且光柵的效率低于1%光柵的不同部分可能有明顯不同的效率。
光譜儀的構(gòu)成
一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統(tǒng)組成。包括以下幾個主要部分：
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點。
2. 準直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐手痹梢允且华毩⒌耐哥R、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，紅外熱像儀使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像其中每一像點對應(yīng)于一特定波長。
5. 探測器陣列：放置于焦平面用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
